DIN EN ISO 1456 (Anhang B, B.2.1)

Schichtdickenmessung (Mikroskopisches Verfahren)

Metallische und andere anorganische Überzüge - Galvanische Überzüge aus Nickel, Nickel plus Chrom, Kupfer plus Nickel und Kupfer plus Nickel plus Chrom - Anhang B: Prüfverfahren zur Schichtdickenbestimmung, B.2 Zerstörende Verfahren, B.2.1 Mikroskopisches Verfahren